關鍵詞搜索: ROHS檢測儀,鹵素測試儀,x射線熒光光譜儀,重金屬檢測儀,鍍層膜厚分析儀,手持合金分析儀,手持礦石分析儀,手持土壤分析儀,ROHS2.0分析儀,rohs十項檢測儀,鄰苯檢測儀,色譜儀,光譜儀

你的位置:首頁 > 技術文章 > 直讀光譜儀的誤差來源是什么?

技術文章

直讀光譜儀的誤差來源是什么?

技術文章
  光譜儀的誤差來源在哪?接下來由一諾機電光譜儀的小編為大家講解一下:
  光電直讀光譜儀雖然本身測量準確度很高,但測定試樣中元素含量時,所得結果與真實含量通常不一致,存在一定誤差,并且受諸多因素的影響,有的材料本身含量就很低。下面就誤差的種類、來源及如何避免誤差進行分析。
  根據(jù)誤差的性質及產生原因,誤差可分為下面幾種:
  1.系統(tǒng)誤差的來源
  (1)標樣和試樣中的含量和化學組成不相同時,可能引起基體線和分析線的強度改變,從而引入誤差。
  (2)標樣和試樣的物理性能不相同時,激發(fā)的特征譜線會有差別從而產生系統(tǒng)誤差。
  (3)澆注狀態(tài)的鋼樣與經(jīng)過退火、淬火、回火、熱軋、鍛壓狀態(tài)的鋼樣金屬組織結構不相同時,測出的數(shù)據(jù)會有所差別。
  (4)未知元素譜線的重疊干擾。如熔煉過程中加入脫氧劑、除硫磷劑時,混入未知合金元素而引入系統(tǒng)誤差。
  (5)要消除系統(tǒng)誤差,必須嚴格按照標準樣品制備規(guī)定要求。為了檢查系統(tǒng)誤差,就需要采用化學分析方法分析多次校對結果。
  2.偶然誤差的來源
  與樣品成分不均勻有關的誤差。因為光電光譜分析所消耗的樣品很少,樣品中元素分布的不均勻性、組織結構的不均勻性,導致不同部位的分析結果不同而產生偶然誤差。主要原因如下:
  (1)熔煉過程中帶入夾雜物,產生的偏析等造成樣品元素分布不均。
  (2)試樣的缺陷、氣孔、裂紋、砂眼等。
  (3)磨樣紋路交叉、試樣研磨過熱、試樣磨面放置時間太長和壓上指紋等因素。
  (4)要減少偶然誤差,就要精心取樣,消除試樣的不均勻性及試樣的鑄造缺陷,也可以重復多次分析來降低分析誤差。
  3.其他因素誤差
  (1)氬氣不純。當氬氣中含有氧和水蒸氣時,會使激發(fā)斑點變壞。如果氬氣管道與電極架有污染物排不出去,分析結果會變差。
  (2)室內溫度的升高會增加光電倍增管的暗電流,降低信噪比。濕度大容易導致高壓元件發(fā)生漏電、放電現(xiàn)象,使分析結果不穩(wěn)定。
在線咨詢
電話咨詢
13751165856
關注微信
返回頂部